Charakterisierung der Oberflächen- und Innenstruktur (physikalische, elektronische und chemische Eigenschaften) von Materialien bis hin zum atomaren Maßstab:
– Transmissionselektronenmikroskopie
– Sondenkorrigiertes FEI Titan G2 80-200 kV ChemiSTEM
– Doppelt korrigierte FEI Titan G3 Cubed Themis 60-300 kV
– JEOL JEM 2100 80-200 kV
– Kryo-Elektronenmikroskop
– Thermo Scientific Glacios Kryo-Transmissions-Elektronenmikroskop (Cryo-TEM); 200 kV, 12-Gitter-Autoloader und ein hochmoderner direkter Elektronendetektor. Das System ist für die Einzelteilchenanalyse, Kryo-Elektronentomographie (Cryo-ET) und Mikro-Elektronenbeugung (MicroED) eingerichtet.
– Rasterelektronenmikroskopie
– FEI Helios NanoLab 450S DualBeam – FIB mit UHREM FEG-SEM
– FEI Quanta 650 FEG Umwelt-SEM (einschließlich Peltier- und Heizstufe)
– In Situ TEM-Halterungen
– FEI MEMS-basierte TEM-Heizung und elektrischer Halter
– 2 Gatan Cryo-TEM Halterungen (FEI und JEOL Mikroskope)
– Röntgen-Photoelektronen-Spektroskopie
– Thermo Scientific Escalab 250 Xi
