Im Zeitalter der rasanten technologischen Entwicklung der integrierten Photonik und der damit verbundenen hohen Nachfrage nach modernen und effizienten Methoden
Eine der Hauptanwendungen der Zweistrahlsysteme SEM/FIB (Rasterelektronenmikroskop) / (fokussierter Ionenstrahl) ist die Probenvorbereitung für die TEM (Transmissionselektronenmikroskopie). Damit die TEM-Messung
Die einzigartige Laser-Workstation, die vom Nanores-Team aus unabhängigen Elementen konstruiert wurde, verfügt über einen Femtosekundenlaser, ein hochpräzises Werkzeug, das für
Delaminationen, Risse, Verunreinigungen, Porositäten, Abnutzung oder Abplatzungen sind Beispiele für Effekte, die auf der Oberfläche und im Querschnitt der getesteten
Das vollautomatische Härteprüfgerät NEMESIS 51000G2/A ermöglicht Messungen nach dem Brinell-, Vickers- und Rockwell-Verfahren in einem Lastbereich von 0,010 kgf bis
EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) auch bekannt als energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS, EDX, EDXS oder XEDS), manchmal auch energiedispersive Röntgenanalyse (EDXA oder
Unsere fortschrittliche Laboreinrichtung erleichtert die Vorbereitung von Materialproben für eine eingehende Analyse. Wir sind in der Lage, Bildgebungsverfahren wie die
Die Dicke der Schicht ist oft ein kritischer Parameter, der die Verwendbarkeit der hergestellten Elemente beeinflusst. Bei speziellen Beschichtungen aus
Das konfokale Olympus LEXT 3D-Mikroskop ermöglicht die präzise Messung von Form und Oberflächenrauheit von Proben im Submikronbereich. Es führt präzise
Das Quanta 3D 200i ESEM/Ga-FIB-Mikroskop kombiniert ein Elektronenmikroskop, das auf einer Wolframkathode basiert, und ein Ionenmikroskop. Sein großer Vorteil ist
Das FEI Dual Beam SEM/Ga-FIB Mikroskop kombiniert die Vorteile eines ultrahochauflösenden Elektronenmikroskops und eines Ionenmikroskops. Es kann daher für die
